示波器+光隔離探頭方案

• 專案背景與需求分析

碳化矽（Siic）和氮化鎵（GaN）作為第三代半導體材料的代表，憑藉其寬禁帶特性和高擊穿電場強度，在多個領域展現出獨特優勢。這些材料雖然具有顯著的性能優勢，但開關速度很快的特點也給測試測量帶來了不小的挑戰。光隔離探頭，通過光纖隔離技術 解決了傳統探頭在高壓、高頻、高共模干擾場景下的局限性。示波器搭配光隔離探頭成為SiC/GaN等寬禁帶半導體測試的“終極裁判工具”。

• 應用場景

1. 氮化鎵、碳化矽、MOSFET、IGBT等的半/全橋驅動信號測量。
2. 高壓電源、開關電源的高壓測量和高頻寬電壓測量
3. 浮動測量
4. 功率轉換器設計
5. 電源設備評估
6. 開關電源設計
7. 逆變器設計
8. 電機驅動設計

• 系統架構

• 方案優勢

獨創放大鏡功能

支持垂直放大（最高62.5μV/div）與水準縮放的雙向調節，工程師可直接通過觸控式螢幕調整放大視窗的位置和尺寸，即時觀測微弱信號或大信號中的局部細節。該功能操作直觀，只需拖動即可鎖定目的地區域，在放大視圖中精准分析波形特徵，提供了高解析度、高靈活性的測試解決方案。


硬體12位元ADC

用於電路設計調試、高速信號完整性分析（如上升時間、抖動測量）以及半導體器件的性能測試。在氮化鎵（GaN）、碳化矽（SiC）等寬禁帶半導體器件的開發中，其高解析度（4096級量化）能精准捕捉微弱信號變化。

保證隔離測量安全

OIP3000系列探頭共模隔離電壓高達60kVpk。在新能源汽車的電池管理系統（BMS）、車載感測器和自動駕駛系統中，用於監測電壓波動、驅動信號時序分析，確保系統可靠性，並確保高壓部件（如逆變器）的隔離測量安全。

優異的示波器性能

ADS系列最高500MHz頻寬，具有四個類比頻道，每通道2.5GSa/s即時取樣速率。具有高存儲，高波形捕獲率，低雜訊等特點。確保在工業控制設備中實現多通道同步測試，監測電源紋波、雜訊等參數，優化電力系統穩定性。同時在電機驅動系統、車載充電樁的高壓信號測量過程中，保障電控系統在複雜電磁環境下的穩定性。

還原真實信號

OIP3000系列光隔離探頭採用衰減輸入的方式，其衰減電路位於探頭的最前端，使輸入電容能低至lpF，能很大程度降低對被測電路的影響。衰減器使用同軸傳輸，擁有出色的dv/dt抗擾度。在GaN、SiC、IGBT等功率器件的半/全橋驅動信號測試中，通過低輸入電容（1pF）和高抗擾度還原真實波形，避免探頭寄生電容導致的失真。

使用靈活

OIP3000系列光隔離探頭隔離耐壓超高，多通道測量無需考慮共地問題。

在變頻器、PLC等設備的浮地信號測試中，實現多通道獨立參考點測量，簡化複雜系統的調試流程。