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OWON ORF5060近場探棒

ORF5060近場探頭用於配合OWON全系列頻譜分析儀進行EMI電磁干擾量測、
可用來檢測元器件表面的磁場強度、磁場耦合通道以及電子模塊附近的磁場環境，
從而快速定位和分析電磁干擾源。

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產品詳情

規格

包裝附件

近場探棒*4只、射頻線纜*1、N-SMA轉接器*1

配件

配件以最終交付為准。

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